年度 | 1993 |
---|---|
全部作者 | 楊千/Chyan Yang |
論文名稱 | “Linear Dependency Check in Built-in Test,” |
期刊名稱 | International Journal of Microelectronics and Reliability |
卷數 | 33 |
期數 | 5 |
頁碼 | 633-636 |
登入 國立陽明交通大學 資訊管理與財務金融學系
年度 | 1993 |
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全部作者 | 楊千/Chyan Yang |
論文名稱 | “Linear Dependency Check in Built-in Test,” |
期刊名稱 | International Journal of Microelectronics and Reliability |
卷數 | 33 |
期數 | 5 |
頁碼 | 633-636 |