年度	2008
全部作者	楊千,Chyan Yang, Chao-Jung Chang, Han-Jen Niu, and Hsueh-Chang Wu
論文名稱	Increasing Detectability in Semiconductor Foundry by Multivariate Statistical Process Control
期刊名稱	Total Quality Management & Business Excellence
卷數	19
期數	5
頁碼	429-440